今日，廣皓天檢測(cè)儀器有限公司與中國(guó)攜手，共同發(fā)布了一款 AI 溫控高低溫濕熱試驗(yàn)箱，旨在攻克芯片在復(fù)雜環(huán)境下的耐候性難題。這一創(chuàng)新成果將為芯片行業(yè)的可靠性測(cè)試帶來(lái)革命性變化，有望推動(dòng)我國(guó)芯片技術(shù)的進(jìn)一步發(fā)展。

值得一提的是，該試驗(yàn)箱的 AI 智能系統(tǒng)能夠根據(jù)芯片的類型、測(cè)試需求以及過(guò)往測(cè)試數(shù)據(jù)，自動(dòng)優(yōu)化試驗(yàn)方案，預(yù)測(cè)試驗(yàn)結(jié)果，并實(shí)時(shí)調(diào)整試驗(yàn)參數(shù)，極大地提高了測(cè)試效率與準(zhǔn)確性。例如，在對(duì)某款 5G 芯片進(jìn)行測(cè)試時(shí)，AI 系統(tǒng)通過(guò)分析芯片的結(jié)構(gòu)和材料特性，提前優(yōu)化了溫濕度變化曲線，使原本需要數(shù)周的測(cè)試周期縮短至一周以內(nèi)，且測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性得到顯著提升。