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首頁 > 產(chǎn)品中心 > 試驗(yàn)箱>冷熱沖擊試驗(yàn)箱 > TSD-80F-3P芯片溫度沖擊試驗(yàn)平臺(tái)
芯片溫度沖擊試驗(yàn)平臺(tái)
簡要描述:

在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中,芯片性能與可靠性至關(guān)重要,而芯片溫度沖擊試驗(yàn)平臺(tái)便是評(píng)估芯片在溫度變化下性能的關(guān)鍵設(shè)備。

型號(hào):TSD-80F-3P

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更新時(shí)間:2025-05-29

價(jià)格:45400

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芯片溫度沖擊試驗(yàn)平臺(tái)
品牌廣皓天產(chǎn)地國產(chǎn)

芯片溫度沖擊試驗(yàn)平臺(tái)


產(chǎn)品用途

該試驗(yàn)平臺(tái)主要用于芯片研發(fā)、生產(chǎn)及質(zhì)量控制等環(huán)節(jié)。在研發(fā)階段,助力工程師快速驗(yàn)證新設(shè)計(jì)芯片的可靠性,優(yōu)化芯片結(jié)構(gòu)與材料選擇;生產(chǎn)過程中,可對(duì)芯片進(jìn)行抽檢或全檢,確保每一顆出廠芯片都能承受溫度沖擊考驗(yàn);質(zhì)量控制方面,為芯片的穩(wěn)定性和耐用性提供數(shù)據(jù)支撐,降低產(chǎn)品售后風(fēng)險(xiǎn)。通過快速切換高溫與低溫環(huán)境,測(cè)試芯片封裝的焊點(diǎn)、封裝材料、內(nèi)部線路等部件在溫度沖擊下的熱應(yīng)力承受能力,檢測(cè)是否出現(xiàn)焊點(diǎn)開裂、封裝變形、材料分層等問題,確保芯片在復(fù)雜環(huán)境中保持電氣性能穩(wěn)定。


芯片溫度沖擊試驗(yàn)平臺(tái)

芯片溫度沖擊試驗(yàn)平臺(tái)

工作原理

通常有多種實(shí)現(xiàn)方式。常見的兩箱式結(jié)構(gòu),通過提籃或機(jī)械裝置快速將芯片樣品在高溫箱和低溫箱之間轉(zhuǎn)移,使芯片瞬間經(jīng)受溫度劇變。例如,當(dāng)芯片從高溫環(huán)境迅速轉(zhuǎn)移至低溫環(huán)境時(shí),芯片內(nèi)部不同材料因熱脹冷縮系數(shù)差異產(chǎn)生應(yīng)力,以此檢驗(yàn)芯片結(jié)構(gòu)的可靠性。三箱式結(jié)構(gòu)則設(shè)有高溫箱、低溫箱和測(cè)試箱,利用風(fēng)門切換冷熱氣流至測(cè)試箱,樣品無需移動(dòng),這種方式適用于對(duì)振動(dòng)敏感的精密芯片測(cè)試,通過冷熱氣流快速交替沖擊芯片,模擬實(shí)際使用中的溫度沖擊情況 。還有利用氣流沖擊原理的設(shè)備,試驗(yàn)機(jī)輸出氣流罩將芯片罩住形成密閉測(cè)試腔,輸出高溫或低溫氣流,使芯片表面溫度急劇變化,完成高低溫沖擊試驗(yàn),并且可針對(duì)單個(gè)芯片或元件進(jìn)行隔離測(cè)試,不影響周邊其他器件。


技術(shù)參數(shù)

  1. 溫度范圍:涵蓋極寬的溫度區(qū)間,低溫一般可達(dá) -70℃甚至更低,高溫可達(dá) 150℃至 250℃不等,如某款設(shè)備溫度控制范圍為 -70℃ ~ +250℃,沖擊溫度范圍 -60℃ ~ +200℃,能夠模擬芯片在各種環(huán)境下的工作溫度,無論是太空的超低溫,還是工業(yè)設(shè)備內(nèi)部的高溫環(huán)境,都能精準(zhǔn)復(fù)現(xiàn)。

  1. 溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間:這是衡量設(shè)備性能的關(guān)鍵指標(biāo),快速的溫度轉(zhuǎn)換能更真實(shí)模擬芯片實(shí)際使用中的溫度驟變。一般兩箱式設(shè)備溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間在 10 秒至 15 秒內(nèi),部分設(shè)備可達(dá) 5 秒左右;三箱式由于氣流切換原理,轉(zhuǎn)換時(shí)間通常更短,在 3 秒至 5 秒內(nèi) 。例如,某型號(hào)設(shè)備從 -55℃到 +125℃的轉(zhuǎn)換時(shí)間約為 10 秒,高效地完成溫度沖擊測(cè)試。





  1. 溫度均勻度與波動(dòng)度:溫度均勻度保證測(cè)試腔內(nèi)不同位置芯片所經(jīng)受溫度一致,一般要求在 ±2℃至 ±5℃范圍內(nèi),確保測(cè)試結(jié)果的一致性和可比性。溫度波動(dòng)度則體現(xiàn)設(shè)備控溫的穩(wěn)定性,常見在 ±0.5℃至 ±2℃之間,如測(cè)試品恒定在 -40℃時(shí),溫度偏差為 ±1℃,避免溫度的無規(guī)律波動(dòng)對(duì)測(cè)試結(jié)果產(chǎn)生干擾。

溫度控制系統(tǒng)
  1. 制冷系統(tǒng):多數(shù)采用二元復(fù)疊式制冷技術(shù),搭配進(jìn)口高效壓縮機(jī)與環(huán)保制冷劑,實(shí)現(xiàn)超寬溫度范圍的穩(wěn)定控制,確保低溫區(qū)的有效運(yùn)行。部分設(shè)備還具備智能能量調(diào)節(jié)功能,可依據(jù)實(shí)際測(cè)試需求自動(dòng)調(diào)整制冷功率,達(dá)到節(jié)能高效的目的 。

  1. 加熱系統(tǒng):通常采用鎳鉻合金電加熱絲,升溫速度快、熱效率高。結(jié)合 PID 智能溫控儀,能夠?qū)崿F(xiàn)精準(zhǔn)控溫,溫度控制精度可達(dá) ±0.5℃,快速將測(cè)試腔升溫至設(shè)定高溫。

  1. 控制系統(tǒng):配備觸摸屏 PLC 控制器,操作界面直觀友好。用戶可便捷地預(yù)設(shè)多段溫度沖擊程序,靈活設(shè)置循環(huán)次數(shù)、保持時(shí)間、切換時(shí)間等參數(shù)。同時(shí),具備實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)記錄與曲線顯示功能,方便用戶隨時(shí)查看芯片在測(cè)試過程中的溫度變化情況,為后續(xù)分析提供詳盡數(shù)據(jù) 。

應(yīng)用領(lǐng)域
  1. 消費(fèi)電子芯片:如手機(jī)、平板電腦的處理器芯片、存儲(chǔ)芯片等,通過溫度沖擊測(cè)試確保芯片在日常使用中,面對(duì)不同環(huán)境溫度變化(如從寒冷室外進(jìn)入溫暖室內(nèi))時(shí),能穩(wěn)定運(yùn)行,不出現(xiàn)死機(jī)、數(shù)據(jù)丟失等問題。

  1. 汽車電子芯片:車載芯片需在復(fù)雜惡劣的汽車運(yùn)行環(huán)境中可靠工作。溫度沖擊試驗(yàn)平臺(tái)模擬汽車在嚴(yán)寒冬季、炎熱夏季以及引擎艙高溫等環(huán)境下,芯片的性能表現(xiàn),驗(yàn)證芯片能否滿足汽車電子系統(tǒng)的高可靠性要求,保障行車安全 。


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