溫變曲線失控：快速溫變測試箱需精準遵循預設(shè)溫變曲線（如 “-40℃→85℃→-40℃循環(huán)"），冷凝器結(jié)垢導致制冷能力不足，會使降溫階段無法達到設(shè)定低溫（如設(shè)定 - 40℃僅能降至 - 30℃），或低溫段保溫時溫度持續(xù)回升，破壞測試環(huán)境穩(wěn)定性。例如在電子元件低溫可靠性測試中，因冷凝器結(jié)垢導致箱內(nèi)溫度波動超 ±3℃，遠超標準要求的 ±0.5℃，直接導致測試數(shù)據(jù)無效。

壓縮機過載保護：為彌補冷凝器結(jié)垢導致的散熱不足，快速溫變測試箱的壓縮機會自動提升運行功率，長期過載易觸發(fā)壓縮機高溫保護（排氣溫度超 120℃時停機），導致測試中斷。若保護裝置失效，還可能造成壓縮機閥片燒毀、電機損壞，維修成本超萬元，設(shè)備停機周期長達 10~15 天。

濕度控制異常：部分快速溫變測試箱依賴制冷除濕功能維持低濕度環(huán)境（如 20% RH 以下），冷凝器結(jié)垢導致制冷效率下降，除濕能力同步衰減，會使箱內(nèi)濕度持續(xù)偏高，無法滿足低濕測試需求（如芯片防潮測試需 10%~20% RH），影響試件耐濕性能評估。

定期清潔維護：

優(yōu)化使用環(huán)境：將快速溫變測試箱安裝在通風良好、無粉塵、無腐蝕性氣體的場所，風冷式設(shè)備需保證冷凝器進風口與障礙物距離≥50cm，避免熱氣回流；水冷式設(shè)備需使用軟化水（硬度≤50mg/L）作為冷卻介質(zhì)，減少水垢生成。