大型高低溫試驗設備的核心試驗指標之一是溫度均勻度，其精度直接決定產(chǎn)品環(huán)境適應性測試結果的有效性。在設備運行過程中，樣品放置方式往往被忽視，而“過密放置”正是破壞溫度均勻度的關鍵因素。對于工作室容積普遍在10-100立方米的大型高低溫試驗設備而言，樣品排布的合理性與溫度場穩(wěn)定性高度關聯(lián)，過密放置會從氣流循環(huán)、熱負荷平衡等多維度引發(fā)連鎖問題，最終導致試驗數(shù)據(jù)失真。

其次，過密放置會加劇大型高低溫試驗設備的熱負荷失衡。樣品本身具有熱容，試驗過程中需與環(huán)境進行熱交換以達到溫度平衡。當樣品過密時，單位體積內(nèi)的總熱容急劇增加，超出設備制冷/加熱系統(tǒng)的調(diào)節(jié)能力。尤其是在降溫階段，密集樣品釋放的大量熱量會使局部區(qū)域降溫速率滯后，設備制冷壓縮機雖全力運行，但仍無法實現(xiàn)全域同步降溫，導致同一工作室中不同位置的樣品溫度差顯著擴大。此外，部分樣品（如電子元件）在試驗中可能產(chǎn)生微熱量，過密環(huán)境會導致熱量積聚，進一步破壞溫度均勻性。

樣品過密還會干擾大型高低溫試驗設備的溫度監(jiān)測精度。設備內(nèi)置的多點溫度傳感器需精準捕捉不同區(qū)域的溫度變化，以反饋至控制系統(tǒng)進行參數(shù)調(diào)節(jié)。過密的樣品可能遮擋傳感器探頭，使其檢測到的溫度并非真實環(huán)境溫度，導致控制系統(tǒng)發(fā)出錯誤調(diào)節(jié)指令。例如，傳感器被高溫樣品遮擋時，系統(tǒng)會誤判環(huán)境溫度偏高，進而加大制冷功率，造成其他區(qū)域溫度過低，形成“冷熱不均”的惡性循環(huán)。